阻抗分析儀測阻抗電容
時間:2021-05-21瀏覽量：0
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使用阻抗分析儀測量電容器時，Q和D出現(xiàn)了負值，我該如何處理呢?
對于低損耗器件(高Q、低D)來說，在LCR表/阻抗分析儀上通常不會出現(xiàn)負讀數(shù)。請注意負讀數(shù)在物理上是不可能的(對于無源元件)，下面的內容解釋了出現(xiàn)負讀數(shù)的原因。
測量細節(jié)：
是德阻抗分析儀和LCR表測量被測件(DUT)的電壓(V)和電流(I)。
Z(阻抗是一個復數(shù))可通過公式計算： Z = V/I.
然后，儀器通過數(shù)學計算得出Z的實部和虛部(根據(jù)Z的幅度和θ角)。
對于實際的(而不是理論的)電容器，其元件模型如下圖所示。
Q = 1/D = -Xc/R
這樣，Z = R – jXc.此處的R為元器件的測量損耗。
測量實例:
測量值：|Z| = 100.001 Ω
Xc = 100 Ω
R = 0.5 Ω
如果|Z|的不確定度為1%，那么|Z| = 100.001 ± 1 Ω?。根據(jù)Z和R的值，R的不確定度為200%(根據(jù)比率，D = X/R)。這樣R的值就會在-0.5 Ω?至1.5 Ω?之間，R的顯示值(Q或D同樣如此)也就可能為負。
有關Z、R、X、D、Q等測量不確定度計算的詳細情況，請參考專門的LCR表或阻抗分析儀的用戶指南。
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